一、產(chǎn)品介紹
本系統(tǒng)利用特定激光器，經(jīng)光學(xué)系統(tǒng)得到方形激光光斑，光斑面積達(dá)230mmX230mm。在激光光斑作用下，硅片或電池片激發(fā)出紅外光，經(jīng)紅外相機(jī)采集硅片或電池片的紅外圖像，利用紅外圖像進(jìn)行缺陷檢測(cè)。
該P(yáng)L檢測(cè)儀適用于單晶或多晶的硅片和電池片，可獨(dú)立成設(shè)備，也可嵌入產(chǎn)線，進(jìn)行在線檢測(cè)。
可檢測(cè)的缺陷包括黑心、黑邊、黑團(tuán)塊、隱裂、裂紋、碎片、低效片、黑線、缺角、崩邊等。該系統(tǒng)采用深度學(xué)習(xí)與人工智能算法，可實(shí)現(xiàn)單晶和多晶的各種缺陷自動(dòng)識(shí)別。
該系統(tǒng)已成功用于某光伏設(shè)備制造企業(yè)。在此基礎(chǔ)上可根據(jù)客戶具體要求進(jìn)行定制開發(fā)。
二、技術(shù)指標(biāo)
設(shè)備型號(hào) | 太陽(yáng)能電池片PL檢測(cè)儀 DP100 |
生產(chǎn)指標(biāo) |
產(chǎn)能 | 0.5s/pcs |
最大可測(cè)面積 | 230×230mm |
適用工序 | 電池片 |
測(cè)量指標(biāo) |
相機(jī)分辨率 | 500W |
相機(jī)類型 | CCD |
激光波長(zhǎng) | 808nm |
激光器功率 | 40W |
曝光時(shí)間 | 0.1~1S（可調(diào)） |
顯示器 | 24寸（超清） |
缺陷類型 | 正常檢測(cè):隱裂/碎片/低效率片/燒結(jié)網(wǎng)紋/材料缺陷 |
圖像處理 | 圖像顯示：圖像放大、條碼顯示、缺陷標(biāo)記
圖像處理：增益、灰度、亮度、對(duì)比度調(diào)節(jié) |
電氣指標(biāo) |
特點(diǎn) | 1、非接觸式檢測(cè)，避免二次損壞；
2、特定圖像采集系統(tǒng)（無(wú)需暗室），圖像質(zhì)量高；
3、檢測(cè)效率高，可嵌入產(chǎn)線，進(jìn)行在線檢測(cè)；
4、采用人工智能算法，實(shí)現(xiàn)缺陷自動(dòng)識(shí)別，無(wú)需人工干預(yù)；
5、適應(yīng)范圍廣，可用于各種類型的硅片或電池片，也適用于各個(gè)階段的缺陷檢測(cè)； |
工作環(huán)境 | 溫度：25℃±10℃；相對(duì)濕度：≤85% |
電源 | AC220V/50Hz/10A |
設(shè)備尺寸 | 600mm*650mm*1000mm |
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